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本文標(biāo)題:掌握掃描電子顯微鏡該如何正確使用了解其發(fā)展史（之二）
信息分類(lèi):信息交流 新聞來(lái)源：未知 發(fā)布時(shí)間：2015-11-14 9:36:08
掌握掃描電子顯微鏡該如何正確使用了解其發(fā)展史（之二）
如今，這種技術(shù)的最大的優(yōu)點(diǎn)，就是可以用在冶金和金
屬的物理方面，其還能夠?qū)c(diǎn)在探針的微區(qū)進(jìn)行分析，
以及還可以將X射線譜儀作為一種附件，
這樣的添加是可以對(duì)較小的選區(qū)進(jìn)行分析，而且還能夠
相應(yīng)的進(jìn)行成分方面的工作分析，
一般情況下，掃描電子顯微鏡對(duì)試樣檢測(cè)的要求沒(méi)那么
嚴(yán)格，大小是在100x80x50毫米，通常使用是數(shù)值是在12x5
毫米，25x10毫米，
使用的試樣可以是經(jīng)過(guò)拋光的試樣，也可以是經(jīng)過(guò)腐蝕
的金相試樣，其表面經(jīng)過(guò)斷裂的也是可以的，
如果使用掃描電子顯微鏡進(jìn)行試樣的觀測(cè)，可以是在幾分
鐘就可以看到試樣的表面形狀，以及其化學(xué)成分，還有就是
晶體也是如此，得出的都是高分辨率數(shù)據(jù)。
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本文出自上海永亨光學(xué)儀器有限公司，本文地址：http://www.techmic.cn/xinxijiaoliu/1945.html
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