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本文標(biāo)題:偏光鏡中的正交鏡上非均質(zhì)晶體的檢測(cè)

信息分類:站內(nèi)新聞　新聞來(lái)源：未知發(fā)布時(shí)間：2015-10-8 15:42:32

偏光鏡中的正交鏡上非均質(zhì)晶體的檢測(cè)

對(duì)于我們?cè)谑褂?a title="顯微鏡" target="_blank" class="sitelink">顯微鏡對(duì)非均質(zhì)晶體物質(zhì)的檢測(cè)分

析研究觀察，則主要是對(duì)非均質(zhì)切片與其它切片同

時(shí)進(jìn)行顯微觀察。

這時(shí)我們?cè)谟^察這種晶體物質(zhì)時(shí)就需要使上或是下

偏光鏡的振動(dòng)方向是相同的，這樣我們?cè)谙缕忡R

中所透出的晶體振動(dòng)方向則是一種平行偏光。

這樣就不會(huì)改變晶體的振動(dòng)方向，而如果達(dá)到上偏

光鏡時(shí)，上偏光鏡就需要與晶體的振動(dòng)方向相垂直

，這樣就不會(huì)透過(guò)晶體而使晶體表面出現(xiàn)消光現(xiàn)象。

由此我們可以知道晶體的消光現(xiàn)象，則是在正交鏡

下會(huì)現(xiàn)出全消光現(xiàn)象，而這種晶體就是均質(zhì)晶體，

也可能是非均質(zhì)晶體垂直于光軸的晶體切片表面上

。